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聚焦瑞凱，傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動態(tài)
瑞凱持續(xù)加強(qiáng)可靠性環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)，助推電池業(yè)務(wù)發(fā)展
17 2021-04

瑞凱持續(xù)加強(qiáng)可靠性環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)，助推電池業(yè)務(wù)發(fā)展

電池測試應(yīng)用于多種工業(yè)領(lǐng)域，這些領(lǐng)域包括汽車、計算機(jī)、通訊、國防、和新能源市場，廣泛的應(yīng)用需要更加可靠的質(zhì)量保證和使用安全性。作為多年深耕鋰電領(lǐng)域、提供鋰電池環(huán)境可靠性測試設(shè)備的生產(chǎn)企業(yè)，瑞凱儀器也迎來了新一輪發(fā)展高潮，防爆型高低溫測試心技術(shù)，持續(xù)加強(qiáng)可靠性環(huán)境試驗設(shè)備的開發(fā)與拓展，為鋰電池安全保駕…
HAST與HALT、HASS之間的關(guān)系與區(qū)別

HAST與HALT、HASS之間的關(guān)系與區(qū)別

高加速應(yīng)力試驗(HAST)是指，通過使用高于正常工作應(yīng)力，對器件實施相應(yīng)試驗，確定器件薄弱環(huán)節(jié)及極限參數(shù)。主要分為高加速…
IGBT器件基本失效模式及機(jī)理

IGBT器件基本失效模式及機(jī)理

目前，國內(nèi)外對于IGBT器件失效的研究眾多，主要從兩方面入手，一方面是考慮器件自身的工作循環(huán)，另一方面是考慮器件的實際工…
LED晶片

LED晶片HAST加速壽命測試的介紹

因為目前的測試方式都不足以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費冗長的時間。因此，有其他的團(tuán)隊開始研究加速壽命測試方式和壽…
環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）

環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）理論講解

對研制和批生產(chǎn)質(zhì)量合格的全部產(chǎn)品零件、組件及整機(jī)，在一項或一系列環(huán)境應(yīng)力條件下進(jìn)行工作，剔除有故障的產(chǎn)品，所以稱為環(huán)境應(yīng)…
可靠性試驗的目的是什么

可靠性試驗的目的是什么？

①發(fā)現(xiàn)缺陷，即發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計元器件、零部件、原材料和工藝方面的各種缺陷；②提供信息，即為了提高產(chǎn)品可靠性，產(chǎn)品的戰(zhàn)備完好…
產(chǎn)品可靠性試驗的一般流程

產(chǎn)品可靠性試驗的一般流程

可靠性試驗就是再現(xiàn)產(chǎn)品各環(huán)節(jié)規(guī)定功能實現(xiàn)能力的過程，所以試驗內(nèi)容應(yīng)與產(chǎn)品各環(huán)節(jié)實現(xiàn)規(guī)定功能相對應(yīng)(例如，同樣是拉壓彈簧，…

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